STS作為史上最小、最低價的光譜儀，提供了低噪聲，高信噪比，以及~1.5nm
(FWHM)的光學分辨率的全光譜分析, 具有出色的性能。它針對OEM和大量的需要
監視一個或多個波長并且客戶尋求高重現性的應用。在生命科學，醫療診斷，固態
照明和環境分析等這些行業中，STS是具有吸引力的對基于濾光片的光學傳感系統
和其它微型光譜儀的替代品。
- 小尺寸的全光譜分析
CMOS基本單元小于50mm(2”)平方，僅重68g(2.4 oz.)
- 適于OEM設備
小巧，低成本的單元適于大量產品定量重現性的場合
- 卓越的性能
可以達到或超過與更大，更貴的光譜儀聯系在一起的光學分辨率，穩定性，靈
- 敏度，以及其它性能指標
- 多種接口選項
通過USB或RS-232接口及無線數據通訊通過藍牙或Wi-Fi適配器與光譜儀連接
| 物理參數 |
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| 尺寸 |
40 mm x 42 mm x 24 mm |
| 重量 |
68 g (2.4 oz.), 包括光纖 |
| 操作溫度 |
0-50 °C, 10 °C 變化/小時段 |
| 儲藏溫度 |
-20 to +75 °C |
| 探測器 |
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| 探測器類型 |
ELIS-1024, 1024 像素線陣CMOS |
| 探測器范圍 |
200-1100 nm (未鍍膜) |
| 像素尺寸 |
1024, 7.8 x 125 μm |
| 光學平臺 |
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| 設計交叉 |
Czerny Turner, 焦距 28 mm |
| 入射光闌 |
形狀光闌; 10 μm, 25 μm, 100 μm及200 μm狹縫 |
| 光柵 |
600 l/mm |
| 光纖光學接口 |
~2 cm x 400 μm固定光纖 (不能分離) |
| 量子效率 |
60% (在 675 nm) |
| 光學 |
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| 波長范圍 |
UV (200-600 nm), VIS (350-800 nm), NIR (650-1100 nm) |
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| 光學分辨率 |
FWHM 1.0 nm (10 μm狹縫), |
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1.5 nm (25 μm狹縫), |
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6.0 nm (100 μm狹縫), |
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12.0 nm (200 μm狹縫) |
| 信噪比 |
>1500:1 (最大信號) |
| A/D 分辨率 |
14位 |
| 暗噪聲 |
<3 counts RMS |
| 動態范圍 |
5 x 109(系統, 10 s 最大積分), 4600:1 單次采集 |
| 積分時間 |
10 μs-10 s |
| 雜散光 |
<0.25%在 450 nm; <0.1% 在750 nm |
| 校正后線性度 |
<+/-0.5% ，從 15-95%全比例 |
| 最大暗電流 |
~150 counts/秒在 60 °C |
| 電學 |
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| 供電選項 |
USB或GPIO端口 |
| 數據傳輸速度 |
USB全速 |
| 接口 |
Micro-USB |
| 輸入/輸出 |
GPIO |
| 觸發模式 |
3種模式 |
| 閃控功能 |
單次/連續 |
| 門延遲特性 |
是 |
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