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BeamMap2-CM狹縫掃描式光束質量分析儀

產品型號:BeamMap2-CM

產品ID:S-BMS2-CM4-Si-5

品牌名稱:美國Dataray

 

DataRay的BeamMap2代表了一種完全不同的實時光束分析方法。它通過允許沿光束行程的多個位置進行測量,擴展了Beam'R2的測量功能。這種實時狹縫掃描系統在旋轉圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對,以同時測量四個不同z位置處的四個光束輪廓。 BeamMap2獨特的設計最適用于焦點位置,M2,光束發散和指向的實時測量。

 

產品特點:

 

· 190至1150 nm,Si探測器

· 650至1800 nm,InGaAs 探測器

· 1000至2300或2500 nm,InGaAs(擴展)測器

· 光束直徑~100 μm至~3 mm(1.5 mm加長InGaAs)

· 25 μm狹縫對與Si;0.1到2 μm采樣間隔

· 50 μm狹縫對,帶 InGaAs;0.1到2 μm采樣間隔

· 實時±1 mr實時發散和指向測量精度

· 端口供電,USB2.0靈活的3米電纜沒有電源磚

· 0.1 μm采樣和分辨率

· 線性和對數X-Y輪廓

· 輪廓縮放和狹縫寬度補償

· 實時多Z平面掃描狹縫系統

· 實時XYZ輪廓,焦點位置

· 實時M2、發散、準直、對準

 

產品參數:

產品參數

 

波長

Si detector: 190 to 1150 nm

InGaAs detector: 650 to 1800 nm

Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm

Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm

掃描光束直徑

Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*

平面間距(CM4 models)

5 mm: -5, 0, +5, +20 mm

平面間距 (CM3 models)

10 mm: -10, 0, +10, 0 mm

束腰直徑測量

Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat

1/e2 (13.5%) width

User selectable % of peak

Knife-Edge mode* for very small beams

束腰位置測量

X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm 最佳

測量源

連續波;脈沖激光,Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]

分辨率精度

0.1 μm或掃描范圍的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm

M2 測量

1 to > 20, ± 5%

發散/準直,指向

1 mrad最好

最大功率和輻照度

1 W Total & 0.5 mW/μm2

增益范圍

1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range

顯示圖形

X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16

更新率

~5 Hz

平均

用戶可選擇運行平均值(1 到 8 個樣本)

最低電腦要求

Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型號

 

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